LFDM - Publicaciones

ARTÍCULOS EN REVISTAS

Experimental characterization and numerical modeling of total ionizing dose effects on field oxide MOS dosimeters (+)
Radiation Physics and Chemistry Volumen (182), 109338. 2021.
Autores/as: Cassani, M. V.; Sambuco Salomone, L.; Carbonetto, S.; Faigón, A.; Redin, E. y Garcia-Inza, M.

Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells (+)
Elektron, volumen (5), número (2), 100-104. 2021.
Autores/as: Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M. A.; Carbonetto, S. y Faigón, A.

Numerical modeling of radiation-induced charge neutralization in MOS devices (+)
Radiation Measurements, volumen (153), 106745. 2022.
Autores/as: Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M.; Carbonetto, S.; Lipovetzky, J.; Redin, E. y Faigón, A.

Modeling switched bias irradiations on floating gate devices. Application to dosimetry (+)
IEEE Transactions on Nuclear Science, volumen (69), número (6), 1229-1235. 2022.
Autores/as: Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M.; Carbonetto, S.; Lipovetzky, J.; Redin, E. y Faigón, A.

Influence of interface traps on MOSFET thermal coefficients and its effects on the ZTC current (+)
Microelectronics Reliability, volumen (137), 114752. 2022.
Autores/as: Garcia Cozzi, R.; Carbonetto, S.; Redin, G.; Garcia-Inza, M.; Sambuco Salomone, L. y Faigón, A.

PRESENTACIONES EN CONGRESOS

Total ionizing dose effects on floating gate structures
Preliminary results. 22nd IEEE Latin-American Test Symposium (LATS), virtual symposium, 27 al 29 de octubre, 2021.
Autores/as: Carbonetto, S.; Genovese, L.; Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M.; Redin, E. G. y Faigón, A.

Modelización de efectos de radiación en estructuras MOS
Estados de interfaz. 107° Reunión Nacional de la Asociación de Física Argentina, Bariloche, 27 al 30 de septiembre, 2022.
Autores/as: Gomes, E.; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A. y García Cozzi, R.

A physics-based numerical modeling of total ionizing dose effects in CMOS integrated circuits
Argentina Conference on Electronics, Córdoba, 6 al 10 de marzo, 2023.
Autores/as: Cassani, M. V.; Sambuco Salomone, L.; Carbonetto, S.; Redin, E.; Faigón, A. y Garcia-Inza, M.